最快0.5ms，覆盖100kHz~300MHz的低频
● 测量频率1MHz~300MHz● 测量时间：最快0.5ms● 基本精度±0.72%rdg.● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。
测量模式LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量测量参数Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q精度保证范围100 mΩ~5 kΩ显示范围Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)基本精度Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°测量频率100 kHz~300 MHz (10 Hz~10 kHz步进)测量信号电平功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm电压 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02mArms输出阻抗50 Ω (10 MHz时)显示彩色TFT8.4英寸、触屏测量时间最快0.5ms（FA... [详细介绍]